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    PCT蒸煮壽命試驗箱

    PCT蒸煮壽命試驗箱

    簡要描述:PCT蒸煮壽命試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

    所屬分類:HAST高壓加速壽命試驗箱

    更新時間:2025-03-03

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

    詳情介紹

    PCT蒸煮壽命試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

    PCT蒸煮壽命試驗箱

    ◆ 真空泵浦設計(鍋爐內(nèi)空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性;

    ◆ 超長效實驗運轉(zhuǎn)時間,長時間實驗機臺運轉(zhuǎn)300小時;

    ◆ 干燥設計,試驗終止采真空干燥設計確保測試區(qū)(待測品)的干燥;

    ◆ 水位保護,透過爐內(nèi)水位Sensor檢知保護;

    ◆ 耐壓設計,箱體耐壓力(140℃)2.65kg,符合水壓測試6k;

    ◆ 二段式壓力安全保護裝置,采兩段式結(jié)合控制器與機械式壓力保護裝置;

    ◆ 安全保護排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕;

    型號

    SEST-S250

    SEST-S350

    SEST-S450

    SEST-S550

    工作室尺寸(cm)

    ? 25×35

    ? 30×45

    ? 40×55

    ? 50×60


    溫度范圍

    105~132℃

    濕度范圍

    RH飽和蒸汽(不可調(diào))// 65%RH~RH非飽和蒸汽(可調(diào))

    溫度均勻度

    ≤2℃

    濕度均勻度

    ≤±5%RH

    壓力范圍

    1.2~2.89kg(含1atm)

    加壓時間

    約45/Min

    溫度控制器

              中文彩色觸摸屏+ PLC控制器(控制軟件自行開發(fā))

    循環(huán)方式

     強制對流循環(huán)方式

    結(jié)構(gòu)

    標準壓力容器

    加濕系統(tǒng)

    電熱管

    加濕用水

    蒸餾水或去離子水(自動補水)

    電源

          AC380V  50Hz三相四線+接地線

    材料

    外殼材料

    冷軋鋼板靜電噴塑(SETH標準色)

    內(nèi)壁材料

     SUS316不銹鋼板

    保溫材料

    玻璃纖維棉

    電壓

    220V~240V  50/60HZ單相





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