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    • HAST高壓加速壽命試驗箱
      HAST高壓加速壽命試驗箱

      HAST高壓加速壽命試驗箱*主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體。

      時間:2025-04-15廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:1915
    • PCT蒸煮壽命試驗箱
      PCT蒸煮壽命試驗箱

      PCT蒸煮壽命試驗箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體。

      時間:2025-03-03廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:1565
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